【射频IC进阶实践教程】2.6 LNA版图设计及DRC/LVS验证

射频集成电路的版图设计非常关键，他对寄生参数非常敏感，需要使其最小化。还需要注意相互耦合的方式
本次课程主要介绍射频IC的一些相关布局和连线方面的考虑。

一、版图设计

1. 版图的元件布局

首先打开对应的原理图
点击进行版图设计
由于已经有做好的版图了，所以直接打开查看现存的版图
然后选择布局使用到的layout1
然后点击ok，就会打开layout版图了
可以看到这里的布局都是已经完成了的
然后按住键盘上的shift+f把所有的器件内部layout都显示出来。

（1）元器件layout调入方法

第一种方法是按住键盘上的i键，从工艺库里面调入这些器件的layout
选择对应晶体管的layout
然后就可以调入器件了
但是这种方法有一个缺点是，没有和原理图有对应的关系，但是不糊已影响最终版图的设计，验证
第二种方法是从原理图中选中需要调入进来的晶体管
然后在layout选择pick from schematic
然后所有对应的元器件都会被调入进来了
这种晶体管调入进来的时候是带有guardring外框的，每个晶体管都会单独包含一个deep n-well，会占用很大的版图空间，不方便版图的连线和布局。
下面版图包括了最中间的NMOS晶体管，外围有n井的环，它整个是包含有deep n-well。它通过n-well环（蓝色）和deep n-well（紫色）进行共同的隔离作用，就可以把晶体管中间区域（紫色框）就可以完全单独隔离出来p-sub，这是跟外部的p-sub完全隔离开的，因为在内部p-sub四周有n-well，底板跟p-sub之间还有一个deep n-well，这是可以跟外部的p-sub进行隔离的。
deep n-well的横截面和做界面的图可以去参考工艺文档的一些说明。

（2）去除外围n-well方法

那么如果每个晶体管都采用这种结构，那么版图会占用非常大的面积，而且每个晶体管之间的距离会非常远，这样会导致射频晶体管尺寸会非常大，匹配起来会非常困难。
因此我们再做射频器件版图的时候，通常会把它们打散，然后再来画这个版图，最后再把他们拼整合在一起。
对于这个射频晶体管，我们可以去掉外围的deep n-well和n well
有三种方法可以去掉外围的n well
方法一：选择外围n well的属性，取消勾选deep nwell bodytie
取消掉之后外围的deep n-well还是存在的，只是消失看不见
这时候去画版图的时候就会很不方便，相邻的晶体管必须间隔很远才能满足DRC的要求。
但其实我们是希望所有器件都画在同一个deep n-well里面，然后再边缘在包围n-well的环（绿色），把LNA的衬底完全隔离出来。所以这时候再使用这种类型的器件，就不适合画版图。
方法二：打散晶体管的版图
选择flatten打散

在这里插入图片描述

然后我们可以把dnw层给删除掉
把nwell层也给删除掉
删除掉之后还有标志层（紫色）
我们可以选择删除掉，或者将这个标志层给缩小，只包含有这个晶体管就可以了
然后可以把上面缩好的晶体管做成一个新的cell，之后就可以直接调用进来了
但是会出现一个问题是，如果后续需要再去修改版图的尺寸，就会非常的困难，需要重新去做一个新的cell，灵活性就会变得非常的差。
方法三：选择不带有deep n-well的晶体管，这样画版图的时候会方便一些。
实际上无论带不带deep n-well的晶体管，他的模型性能参数都是完全一样的，唯一的区别是版图上的差异带不带deep n-well。

在这里插入图片描述

我们可以采用替换的方式，在画版图的时候，先用不带dnw的晶体管，把参数改成跟原理图上的参数一样
先画好版图，之后整个LNA都加上deep n-well，再做LVS检查的时候，这个晶体管就会变成带dnw类型的晶体管。既能通过LVS，版图也不会有错
这样后续要修改晶体管尺寸的时候就会很灵活，直接该参数尺寸
这里只有核心电路部分采用deep n-well晶体管，其他偏置电路部分都是采用普通的晶体管。
那么对于其他采用普通类型的晶体管，在整个LNA画上deep n-well后，就会使其类型发生改变了。
那么就需要看工艺是否支持识别这些普通类型的晶体管了。而我们现在采用的这种工艺是支持的。就是在设计的时候，除了射频晶体管以外，普通的晶体管是否带deep n-well，不是根据画的dnw这一层来识别的，而是由dnwtr这一层来识别的（即dnw晶体管类型的标志层），由这个层来决定是不是带这个deep n-well
像smic中芯科技是有这种功能的，但是像tsmc台积电工艺库是不支持这种功能的，它是没有dnwtr层的，因此其普通类型的晶体管放在了dnw层里面就会被识别为dnw类型晶体管，产生错误。在原理图上就要把晶体管替换成dnw类型的晶体管。
这里我们拿个dnw晶体管来举个例子
中间蓝色部分是晶体管实际的部分，外围是加了deep n-well（绿色）的环，外面又加了n-well（紫色）的环，把里面的晶体管衬底单独隔离出来。
然后它还加入了dnwtr层（dnw标志层）（绿色面积部分），表示在这个面积覆盖下的区域都是dnw的地方
dnwtr层
这时候去过LVS的时候，原理图对应的晶体管必须调用的是带dnw类型的晶体管。
但如果没有dnwtr层覆盖的区域（绿色），即使最终画进了dnw层，最终也会识别为普通类型的晶体管

（3）版图整体的布局

由于布局的好坏会直接影响到整个射频集成电路的性能，因此布局一定要合理。
所以我们首先要对LNA的版图做一个整体的考虑
我们希望整个LNA能够跟其他电路更好的隔离开，因此我们把整个LNA电路都放在了深N井deep n-well里面了，那么对应的器件就会不太一样。
首先是核心电路部分的dnw射频晶体管，这些晶体管是做在整个deep n-well上面的，也就是它跟衬底之间具有一定的隔离作用，这样其他电路对LNA的干扰耦合就会减小很多。
这里六个射频晶体管分两层并联排在一起。
第一层是cascode级晶体管
第二层是输入级晶体管和单转双功能的共源极晶体管
对应原理图核心电路部分的四个射频晶体管
负载电阻放在核心电路的晶体管上面
负载电路上面接的是电源
整个LNA电路，上面接的是电源vdd，下面接的是射频输入端。
整体的信号输入是下方输入，右侧输出
其他部分电路根据信号的走线方向来进行排布的
对于输入的MOS电容晶体管
放在整个版图的下面，连接射频输入端
偏置电阻
增益控制的电阻和开关晶体管
核心电路的隔直电容
cascode级晶体管输入隔离电阻
偏置电路的电阻
偏置电路部分所有的PMOS晶体管，因为其衬底需要接电源，所以都放置在版图的上面
偏置电路的NMOS晶体管全部放置在PMOS晶体管的下面
而对于偏置电路开关晶体管，pd控制晶体管，都放在偏置电路NMOS和核心电路晶体管之间。方便连线
滤波电容放置在版图的下端，即射频输入端
反相器的PMOS也一样放置在版图上侧

在这里插入图片描述

而反相器的nmos晶体管放在对应的pmos晶体管的正下方
这样反相器的源漏极就能直接连接在一起，连线比较方便

版图元器件布局总结

在对射频电路进行布局的时候，一定要优先考虑射频信号的走线方向，和走线距离远近，是否顺畅的程度，然后再考虑在其他地方放置偏置电路部分和控制电路部分。
对于占用面积较大的电容版图，就需要去考虑整个版图如何才能更规整，版图的面积才能更小，连线更方便顺畅

2. 版图连线

（1）MOS电容补偿走线寄生电容

版图连线对于偏置电路部分没有太大的要求，只要把线能够能够连起来就可以了。
重点是射频电路的连线，特别是当频率比较高以后，射频电路的射频信号的走线的宽长都会对整个电路的寄生参数产生很大的影响。
可以看到核心电路的晶体管离下面的射频输入端是隔的比较远的，就会到来输入线上面的寄生电容比较大。
但是由于我们设计的LNA电路结构，在输入端接入了额外的补偿MOS电容，来使输入的匹配电路能够减的更小一些。
所以在输入IP这根走线上面，如果他有更多的寄生电容，并不会对整个电路的性能有太大的恶化。当在后仿真，如果输入线上面的寄生电容太大了，可以通过将mos电容的尺寸减小，让其容值减小一些来补偿版图走线上面寄生电容的增加。这样输入线上的寄生电容就不会对整个电路性能参数造成太大的影响。
因此寄生电容还是次要的影响，更需要关注的是走线的阻抗

（2）整理布局及初步连线

打开layout2文件，是连线连了一半的结果
这里是把所有电路和元器件都进行了对齐，
比如射频晶体管，我们让它们直接靠在一起，然后进行水平和垂直方向的对齐。
像其他的晶体管也进行靠近和重叠
nmos晶体管也进行了重新的整理，插入了一些单片晶体管，使得版图能够更匹配对称，版图的性能会更好一些。
还对偏置电路输入级进行了初步的连线
这个版图比较重要的一点是，规划了整个电源和地的走线。
上面这一层作为电源（vdd）的走线
下面这根线是作为GND的走线
放在中间的原因是为了让射频晶体管能够就近接在走线上，也可以使电流镜和射频晶体管的地能够更近一些

（3）完成全部连线

打开layout3
所有连线都已经基本完成了
偏置部分连线比较简单，只要着重去考虑它的匹配对称性部分。通常采用左右对称，或者交叉耦合排列的方式，来进行更好的匹配性设计。
现在来看核心电路的射频晶体管连线部分。
首先是输入线，是从版图的中间，直接从下方穿上去，连接到射频晶体管的栅极
可以看到射频晶体管的栅极都是连接在一起的。
输入线还连接了偏置电阻
我们再设计版图的时候可以做灵活的处理，比如串联的个数问题。如果每个晶体管都串联两个的话，整个晶体管就会被拉的很长。这样就会导致整个版图往左右会长很宽，会占用更大的面积。
电阻左侧是输入，右侧是输出，这样连线也会比较方便，不会有太大的交叉问题出现。
因此我们再设计版图的时候，需要去根据版图的需求，去灵活更改相关期间的一些尺寸和宽敞比等参数，来确保版图连线的方便，使整个版图的尺寸最小化。
因此我们把电阻分成了三段，这样电阻的单个长度就变短了，能够更好的去布局。
这个偏置电阻出来还接入了两个增益控制电阻

这里我们也做了相应的尺寸改变，为了让版图更好的连线，使其尺寸跟偏置电阻相等的长度，这样就可以把电阻排列在一起。
尺寸。同比例放大了宽度，然后增加了其长度，保持他的阻抗相等。
而在layout2里面，尺寸是不一样的
mos电容电源接在栅极，源极和漏极接在GND上面
但是mos电容的gnd并没有单独连接一根线到gnd的总线上去，而是通过滤波电容的另一个极板连接到gnd上。由于滤波电容整个极板都是接gnd，就可以接在他接地的极板上面。
因此可以共用连线，连接到gnd上去
对于射频输入晶体管，其输入接到了栅极，然后漏极是连接到了一起，源极是接在了gnd上面
cascode的栅极接在了偏置电阻上，并全部都连接在了一起

（4）完成外围guarding包围

然后打开layout4
包括了所有连线和外部的cell ring
整个LNA的版图加了两个guarding
内层是p型衬底的guarding保护环
外层是n-well的保护环，主要用于做deep n-well隔离用的，把整个LNA的p衬底都完全隔离开
还把左右的衬底都连接在了一起，金属一层
n-well连接的是电源
deep n-well（绿色）把整个LNA都包围起来。
dnw外围还有n-well的环（紫色），把他们全部隔离开。相当于是在这个地方挖了坑，放在这个屏蔽盒里面，那么其他电路对LNA的干扰和耦合就会变得非常小，有利于提升LNA的抗干扰能力。